天瑞X荧光的分析原理

发布时间2017-08-07        浏览次数：672

要谈到X荧光分析仪在RoHS中所起到的作用，必须介绍一下X荧光分析的原理。

1、基本概念

A.X射线是一种电磁波，其波长在0.01到10nm之间，根据波粒

二相性原理，X射线也是一种粒子，其每个粒子根据下列公

式可以找到其能量和波长的一一对应关系。

E＝hv=h c/l

式中h为普朗克常数，v为频率，c为光速，l为波长。

B.X射线荧光，人们通常把X射线照射在物质上而产生的次级X射线

叫X射线荧光（X—Ray Fluorescence），而把用来照射的X射线

叫原级X射线。所以X射线荧光仍是X射线。

特征X射线，原子中的电子都在一个个电子轨道上运行，而每个

轨道的能量都是一定的，叫能级。内层轨道能级较低，外层轨道

能级较高，当内层的电子受到激发（激发源可以是电子、质子、

a粒子、l射线、X射线等），有足够的能量跳出内层轨道，那

么，较外层的电子跃迁到内层的轨道进行补充，由于是从高能级

上跳往低能级上，所以会释放出能量，其能量以光的形式放出，

这就是特征X射线。

D.X射线产生的几种方法

a、高速电子轰击物质，产生韧致辐射和标识辐射。其产生的韧

致辐射的X射线的能量取决于电子的能量，是一个连续的分

布。而标识辐射是一种能量只与其靶材有关的X射线。这是X

光管的基本原理。

b、同位素X射线源，释放的射线的能量也是量化的,而不是连续

的。

c、同步辐射源。电子在同步加速器中运动，作园周运动，有一

个恒定的加速度，电子在加速运动时，会释放出X射线，所以

用这种方法得到的X射线叫同步辐射X射线。

X荧光分析仪器的种类

现在X荧光分析仪器主要分为两大类，一是：波长色散X荧光光谱分析仪；二是：能量色散X荧光分析仪器。这两种仪器的测试原理有所区别，在对样品激发其元素的特征X射线时，两种仪器的设计原理是相同的，在对特征X射线进行探测时，波长波长色散X荧光光谱分析仪，是检测的特征X射线的波长，即，X射线的波长性；而能量色散X荧光分析仪器，检测的是特征X射线的能量，即，X射线的粒子性。两种仪器的设计结构，探测方法有很大的区别。天瑞仪器公司生产的EDX系列X荧光光谱仪器，就是采用了能量色散的原理设计制造。

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