天瑞仪器镀层测厚仪与涂层测厚仪在测量方法上有何不同？

发布时间2017-08-24        浏览次数：275

    天瑞仪器镀层测厚仪与涂层测厚仪不仅在工作原理上、功能特点上具有一定的区别，同时在测量方法上也具有一定的区别，下面内容进行介绍。
    天瑞仪器镀层测厚仪的测量方法：镀层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
    涂层测厚仪的测量方法：测量方法主要有磁性测厚法、涡流测厚法、超声波测厚法、电解测厚法、放射测厚法等等，不同的测量方法都有不同的测量特点。
    磁性测厚法：适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料一般为：钢\铁\银\镍。这种方法测量精度高。
    涡流测厚法：适用导电金属上的非导电层厚度测量，此种方法较磁性测厚法精度低。
    超声波测厚法：目前还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵、测量精度也不高。
    电解测厚法：此方法有别于以上三种，不属于无损检测，需要破坏涂镀层，一般精度也不高，测量起来较其他几种麻烦。
    放射测厚法：此种仪器价格非常昂贵（一般在10万RMB以上），适用于一些特殊场合。