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天瑞镀层测厚仪测量原理及分类
发布时间2017-12-03 浏览次数：1091
覆层厚度测量已成为加业、表面程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的要手段。为使产品化，我出口商品和涉外项目中，对覆层厚度有了明确要求。
覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者须遵守射线防护规范。X射线法可测薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的缘覆层测厚时采用。
随着术的日益步，特别是近年来引入微机术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多能、、实用化的方向了步。测量的分辨率已达0.1微米，度可达到1%，有了大幅度的提。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是业和科研使用广泛的测厚仪器。
采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测作经济地行。