用X射线荧光光谱法元素分析仪行材料鉴别需注意的事项

发布时间2018-02-08        浏览次数：2171

    线荧光光谱法元素分析仪是种用于金属件材料可靠性鉴别以确认所用金属或合号是否正确无误的简便的方法。用X射线荧光光谱法元素分析仪行材料鉴别需注意相关的事项
    材料可靠性鉴别(PMI)在金属制、石化生产以及消费产品中起到重要作用。
    由于发射和接收的X射线率较低，将分析仪贴近试样就非常重要。理想情况下，试样应当与仪器窗口面直接接触。如果试样具有复杂的几何形状那么就会存在很大难度，但Vanta分析仪的狭窄轮廓外形能够让仪器充分贴近诸如以90度角的卷边焊缝材料。
    对于诸如铝制类的轻合金，XRF分析仪只能对试样表面深度几百微米行测量。对于铸铁或铜等主要金属，XRF分析仪对试样的测量深度小于百微米。而对于金或铅等致密材料，其仅能测量表面的数十微米。这就意味着材料表面准确体现总体成分这点非常关键。诸如油漆、密封材料和镀层以及表面污染等可能会对分析成大影响。与此类似，喷砂或抛丸、研磨、甚至粉尘的残留物均可能影响材料可靠性鉴别。因此在使用XRF分析仪行检测之前务对试样行清洁。