天瑞仪器XRF元素分析仪的术原理

发布时间2018-09-07        浏览次数：64

天瑞仪器XRF元素分析仪可用于分析从钠到铀的所有元素，其可识别浓度范围zui低至百分，至百分比，可用于分析固体、液体和粉状物。
XRF术是项可用于确定各类材料成分构成的分析术，已经成熟运用多年。其应用方向包括金属合金、矿物、石化产品等等。
为何选择XRF术？
相比其他分析术，XRF具有许多。
其速度较快。能够测量多种类型的元素及其在不型材料中的含量浓度。此外，其属于非破坏性术，仅需制备少量样品甚至不需要制备样品，因此，其相比其他术成本较低。
这也就是为什么这么多人选择使用XRF术行日常的材料分析作。
天瑞仪器XRF元素分析仪的术原：
所有XRF仪器都拥有两个主要成分，个是X射线源，般采用X射线管，另个则是探头。X射线源会发出初X射线到样品表面，有时会通过滤光器对X射线束行调整。在光束击打样品原子时，会产生次X射线，这些次X射线会被探头收集并处理。
较稳定的原子是由原子核及绕核旋转的电子构成，电子按照能量层或电子壳层排列，不同的能量层可包含不同数量的电子。
在能初X射线与原子发生碰撞时，会打乱原子的平衡状态。
此时，电子会从较低的能量层射出，形成电子空位，使原子失去稳定。
为了恢复稳定性，较能量层的电子就会填补空位。而电子在两个能量层间移动时释放的多余能量就会以次X射线的形式发射出来。发射出的X射线的能量会表现出元素的特征。
这也就意味着XRF能够提供有关被测样品的定性信息。
不仅如此，XRF同时也是项定量术。
样品原子发射出的X射线经探头收集，并由仪器处理后可形成个光谱，显示X射线的强度峰值及能量对照。
如我们所知，通过峰值能量可以判定元素的种类。其峰值区域或强度可示出元素在样品中的含量。
随后，XRF元素分析仪就可以使用这信息计算样品的元素构成。从按下按钮或扳机，到输出分析结果的流程zui快仅需2秒钟，zui多不过几分钟。