天瑞仪器镀层测厚仪测量过程中的11个测量要点

发布时间2018-10-19        浏览次数：103

天瑞仪器镀层测厚仪可满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求；移动平台可定位测试点，重复定位度小于0.005mm；采用度定位激光，可自动定位测试度；定位激光确定定位光斑，确保测试点与光斑对齐；鼠标可控制移动平台，鼠标点击的位置就是被测点；分辨率探头使分析结果更加；良好的射线屏蔽作用；测试口度敏感性传感器保护；是用来测量材料及物体厚度的仪表。在业生产中常用来连续或抽样测量产品的厚度（如钢板、钢带、薄膜、纸张、金属箔片等材料）。这类仪表中有利用α射线、β射线、γ射线穿透特性的放射性厚度计；有利用超声波频率变化的超声波厚度计；有利用涡流原理的电涡流厚度计；还有利用机械接触式测量原理的测厚仪等。以下是天瑞仪器镀层测厚仪测量过程中的11个测量要点，为确保其测量度，大家务详细阅读。
1、边缘效应：镀层测厚仪对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处行测量是不可靠的。
2、曲率：试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此，在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
3、试件的变形：测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上测出可靠的数据。
4、基体金属磁性质：磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响，为了避免热处理和冷加因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器行校准；亦可用待涂覆试件行校准。
5、测头压力：测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此，要保持压力恒定。
6、测头的取向：测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。
7、基体金属厚度：每种仪器都有个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。
8、表面粗糙度：基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。
9、磁场：周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚作。
10、基体金属电性质：基体金属的电导率对测量有影响，而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。
11、附着物质：镀层测厚仪对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。