使用X射线荧光光谱法元素分析仪时须注意这三个方面
发布时间2018-06-28 浏览次数:2965
江苏
天瑞仪器股份有限公司致力于X射线荧光光谱法元素分析仪的研发、生产与销售。X射线荧光光谱法元素分析仪样品处理简单,并且可以快速获得检测结果。是种用于金属件材料可靠性鉴别(PMI)以确认所用金属或合号是否正确无误的简便的仪器。使用X射线荧光光谱法元素分析仪时须注意这三个方面:
、材料成分
分析仪能够定量分析元素周期表上从镁到重元素等超过90%的元素,覆盖了常用商品合金所含有的大多数元素。分析仪能够对铝合金、不锈钢、铬钼合金、金属管道和法兰材料,黄铜、青铜以及其他铜合金,金属焊料、钛合金、具钢、镍基或钴基等“超合金”行材料牌号匹配和元素定量分析。
分析仪无法直接测量比镁轻的元素。其中包括诸如锂、铍和碳等元素。这些元素与很多应用有关,比如:
某些航天用锂合金中的锂
某些铜合金中的铍
许多低合金钢中的碳
但许多此类合金的牌号仍然可以根据其他合金元素的组分行鉴别。如果需要定量分析这些轻元素,那就需要使用其他分析方法了。
二、试样条件
分析仪的作原理可以概述如下:
(1) 发射X射线,激发样品产生荧光;
(2) 探测器接收X射线荧光;
(3) 利用复杂的运算对数据行处理;
(4) 牌号识别。对于诸如铝制类的轻合金,分析仪只能对试样表面深度几百微米行测量。对于铸铁或铜等主要金属,分析仪对试样的测量深度小于百微米。而对于金或铅等致密材料,其仅能测量表面的数十微米。这就意味着材料表面准确体现总体成分这点非常关键。诸如油漆、密封材料和镀层以及表面污染等可能会对分析成大影响。与此类似,喷砂或抛丸、研磨、甚至粉尘的残留物均可能影响材料可靠性鉴别。因此在使用分析仪行检测之前务对试样行清洁。
分析仪采用低率X射线管。由于发射和接收的X射线率较低,将分析仪贴近试样就非常重要。理想情况下,试样应当与仪器窗口面直接接触。如果试样具有复杂的几何形状那么就会存在很大难度,但分析仪的狭窄轮廓外形能够让仪器充分贴近诸如以90度角的卷边焊缝材料。
三、试样表面温度
分析仪的X射线物理特性基本上不会受试样温度变化的影响。此外,分析仪性能可靠,不会受到环境条件变化的影响。该仪器在-10°C和50°C(14–122°F)2之间的作温度范围使用时不会发生温度漂移或性能降低。分析仪可测量温度可达100°C (212°F)的试样。于上述温度时,仪器检测窗上的聚丙烯薄膜可能会受到损坏。