镀层测厚仪的几种测量方法的特点及其适用范围

发布时间2018-08-15        浏览次数：58

    镀层测厚仪主要用于金属材料表面涂镀层厚度的测量。镀层厚度测量已成为加业、表面程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的要手段。镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内成。使用镀层测厚仪测厚时，常用的方法有：X光测厚法、电解测厚法、涡流测厚法、超声波测厚法、电磁测厚法。下面，随天瑞仪器小编起来了解下镀层测厚仪的几种测量方法的特点及其适用范围吧！
    1、X光测厚法
    适用单层和多镀层的测量，仪器价格贵（般在10RMB以上，口设备20RMB以上），特点就是可以测量多镀层，适用于些特殊场合，例如金属镀层和PCB镀层。
    2、电解测厚法
    电解测厚法属于破坏性测量法，传统，操作测量较麻烦，测量度般，实用性不。
    3、涡流测厚法
    已经发展到超频涡流测量，测量度，适用导电金属上的镀层厚度测量，覆盖了大分的单层电镀品种测量。也可以测量非金属基体例如陶瓷，塑料上的镀金、镀银，作贵金属测量。
    4、超声波测厚法
    适用多层涂镀层厚度的测量，或者以上方法都无法测量的场合。但般价格昂贵，测量度也不，实际生产制中应用不多。
    5、电磁测厚法
    镀层测厚仪电磁测厚法适用导磁材料上的非导磁层厚度测量。导磁材料般为:钢\铁\银\镍，适用平面大于7mm以上镀层的测量。此种测量方法度。