成天瑞仪器镀层测厚仪测量结果不准确的原因有哪些？

发布时间2018-09-21        浏览次数：84

    天瑞仪器镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量不可少的检测仪器，广泛地应用在制业、金属加业、化业、商检等检测域。近期，有客户反馈仪器在使用过程中出现测量结果不准确的情况，那么，成天瑞仪器镀层测厚仪测量结果不准确的原因有哪些呢？以下内容详细作介绍：
    、在系统矫正时没有选择合适的基体
    基体zui小平面为7mm，zui小厚度为0.2mm，低于此临界条件测量是不可靠的。
    二、强磁场的干扰
    当仪器在1V左右的电磁场附近作时，测量会受到严重的干扰。如果离电磁场非常近时还有可能会发生死机现象。
    三、镀层测厚仪发生故障：此时可以和术人员交流或者返厂维修。天瑞仪器镀层测厚仪
    四、人为因素
    这种情况经常会发生在新用户的身上。镀层测厚仪之所以能够测量到微米就因为它能够采取磁通量的微小变化，并把它转化成为数字信号。在使用仪器测量过程中如果用户对本仪器不熟悉就可能使探头偏离被测机体，使磁通量发生变化成错误测量。所以建议用户朋友初次使用本仪器时，要掌握好测量方法。探头的放置方式对测量有很大影响，在测量中应使探头与试样表面保持垂直。并且探头的放置时间不宜过长，以免成基体本身磁场的干扰。
    五、附着物质的影响
    镀层测厚仪对那些妨碍探头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感。因此须清除附着物质，以保证探头与覆盖层表面直接接触。在行系统矫正时，选择的基体的表面也须是裸露的、光滑的。
    镀层厚度测量已成为加业、表面程质量检测的重要环节，是产品达到优等质量标准的要手段。为使产品化，我出口商品和涉外项目中，对镀层厚度有了明确要求。天瑞仪器镀层测厚仪是将X射线照射在样品上，通过从样品上反射出来的二次X射线的强度来。测量镀层等金属薄膜的厚度，因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线只有45-75W左右，所以不会对样品成损坏。同时，测量的也可以在10秒到几分钟内成。