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选购天瑞仪器XRF元素分析仪时应注意这几个关键件
发布时间2018-11-12 浏览次数：77
、探测器
探测器是该仪器的心脏
为什么仪器的价格会相差那么远，很大原因就因为这个。
依分辨率低档次由低至常用的探测器有NaI晶体闪烁计数器，充气（He,Ne,Ar,Kr,Xe等）正比计数管器、HgI2晶体探测器、半导体致冷SiPIN探测器、纯硅晶体探测器、纯锗晶体探测器、电致冷或液氮致冷Si（Li）锂漂移硅晶体探测器、Ge（Li）锂漂移锗探测器等。目前常用的是电致冷或液氮致冷Si（Li）锂漂移硅晶体探测器、SiPIN探测器、纯硅晶体探测器。探测器的性能主要体现在对荧光探测的检出限、分辨率、探测能量范围的大小等方面。所以你要仪器的检出限好你就要看它了。
低档探测器有效检测元素数量少，对被测物质中微量元素较难检测，分辨率般在700－1100eV，般可分析材料基体中元素数量较少，元素间相邻较远，含量较的单个元素。
中档探测器有效检测元素数量稍多，对痕量元素较难检测，分辨率般在200－300eV，
般用于检测的对象元素不是相邻元素，元素相邻较远（至少相隔1-2个元素以上），基体内各元素间影响较小。
探测器可以同时对不同浓度所有元素（般从Na至U）行检测，分辨率般在150－180eV。可同时测定元素周期表中Na-U范围的何元素。对痕量检测可达几个ppm量。
前面那两档检测器，不能符合RoHS的要求，很多生产xrf的公司都宣称他们的仪器能对Na到U元素行检测，但测试的时候能把na到u元素分开吗，我们都知道相邻元素会互相干扰，如果干扰了，你说做出来的数据会准确吗？
SiPIN探测器、纯硅晶体探测器的分辨率般是200eV–270eV，电致冷或液氮致冷Si（Li）锂漂移硅晶体探测器的分辨率为140eV–165eV.电制冷不需要消耗液氮，但他制冷艺复杂，价格也zui贵，靠消耗电来制冷，分辨率比液氮稍逊，但也符合rohs检测的要求。液氮制冷需消耗液氮，使用起来不方便，但液氮的温度很低，操作者须注意安，但它的分辨率比电制冷稍好。这里我们还要看探测器的面积，探测器面积越大，效率越。测试的时间就越短。市面上探测器面积有5—15mm2不等。很多XRF厂商都宣称他们的仪器测试时间是3分钟，是出个可靠的数据3分钟吗，还是减少测试条件，具体减少滤光片的转换次数和livetime来达到减少测试时间。的确很多XRF的测试时间能达到3分钟，但出的数据是很差的。只有少数仪器能达到这个水平。测试时间对RoHS这个行业也是很重要的，因为很多厂家的需检测的产品多，天可能有300多个，甚至更多。如果购买了了台低效率的XRF，你可能要再买几个才能满足你的测试量。
二、X光管
X光管也XRF的核心件之。大多数XRF厂商奉行拿来主义，做的就是组装贴个的作。其性能寿命和分别的成本般是5000小时合几千美金。而的X光管寿命般在10年以上，成本当然也达10多人民币；就检测器SiLi电制冷的，寿命同样会在10年以上，成本至少15人民币。
三、处理器
分为两种：数字脉冲处理器和模拟脉冲处理器，前者在数据处理处理上速度好。数字脉冲处理快线路处理，容许死时间达60%。
可采集大容量计数，可减少采集时间的数字与传统的模拟是两代处理器术，术水平般差十年。模拟脉冲处理器般信号处理模式，死时间仅容许30%。不能行通量信号处理，为获得大的计数须延长采集时间。
四、滤光片
滤光片多，可以有选择的降低信噪比，对痕量分析十分有用。
过去，对环境的评估只能依赖于在实验室对从现场采集并运送到实验室的样件所做的分析，这种方法既浪费金钱又耗用时间。如今有了便携式XRF元素分析仪，检测人员可以在现场直接对环境行评估。天瑞仪器XRF元素分析仪可行经济、有效、及时的实时数据分析，并快速得出的调查结论，从而决定所要采取的下步措施。