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XRF有两幅面孔?波长色散型与能量色散型的区别是什么?
发布时间2019-03-26 浏览次数：97
X射线荧光分析仪是种的可以对多元素行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能跃迁而发出次X射线（X-荧光）。
波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。波长色散型X射线荧光光谱仪（WD-XRF）。是用晶体分光而后由探测器接受经过衍射的特征X射线信号。如果分光晶体和控测器做同步运动，不断地改变衍射角，便可获得样品内各种元素所产生的特征X射线的波长及各个波长X射线的强度，可以据此行特定分析和定量分析。该种仪器产生于50年代，由于可以对复杂体行多组同时测定，受到关注，特别在地质门，后配置了这种仪器，分析速度显著提，起了重要作用。
波长色散型与能量色散型的区别
虽然光波色散型（WD-XRF） X 射线荧光光谱仪与能量色散型（ED-XRF）X射线荧光光谱仪同属于X射线荧光分析仪，它们产生信号的方法相同，zui后得到的波谱也为相似，但由于采集数据的方式不同，WD-XRF（波谱）与ED-XRF(能谱)在原理和仪器结构上有所不同，能也有区别。
1、原理区别
X射线荧光光谱法，是用X射线管发出的初线束辐照样品，激发各化学元素发出二次谱线（X-荧光）。
波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF）是用分光近体将荧光光束色散后，测定各种元素的特征X射线波长和强度，从而测定各种元素的含量。
能量色散型荧光光谱仪（ED-XRF）是借组分辨率敏感半导体检查仪器与多道分析器将未色散的X射线荧光按光子能量分离X色线光谱线，根据各元素能量的低来测定各元素的量，由于原理的不同，故仪器结构也不同。
2、结构区别
波长色散型荧光光谱仪（WD-XRF），般由光源（X-射线管），样品室，分光晶体和检测系统等组成。
为了准且测量衍射光束与入射光束的夹角，分光晶体系统安装在个的测角仪上，还需要庞大而并复杂的机械运动装置。由于晶体的衍射，成强度的损失，要求作为光源的X射线管的率要打，般为2-3千瓦，单X射线管的效率低，只有1%的率转化为X射线辐射率，大分电能均转化为而能产生温，所以X射线管需要专门的冷却装置（水冷或油冷），因此波谱仪的价格往往比能谱仪。
能量色散型荧光光谱仪（DE-XRF），般由光源（X-线管），样品室和检测系统等组成，与波长色散型荧光光谱仪的区别在于他不分光晶体，由于这特点使能量色散型荧光光仪具有如下的优点：
（1）仪器结构简单。装置既省略了晶体的运动装置，也无需调整。还避免了晶体衍射所照成的前度损失，光源使用的X射线管率低，般在100W下，不需要昂贵的压发生器和冷却系统，空气冷却即可，节省电力。
（2）能量色散型荧光光仪的光源。样品，检测器彼此靠得越近，X射线的利用率很，不需要光学聚集，在累计整个光谱时，对样品位置变化不象波长色散型荧光光谱仪那样敏感，对样品形状也无特殊要求。
（3）在能量色散型荧光光谱仪中，样品发出的特征X射线光子同时入检测器，这样奠定了使用多道分析器和荧光同时累计和现实能谱（包括背景）睇基础，也能清楚地表明背景和干扰线。因此，半导体检测器X射线光谱仪能比晶体X射线光谱仪快而方便地成定性分析作。
（4）能量色散型荧光光谱仪减小了化学状态引起的分析线波长的漂移影响。由于同时累积还减少了起的漂移影响，提净计算的统计度，可迅速而方便地用各种方法处理光谱。同时累积观察和测量所有元素，而不是按特定谱线分析特定元素。因此，减少偶然错误判断某元素的可能性。
3、能区别
考虑到各种情况，能量色散型荧光光谱仪和波长色散型荧光光谱仪的检测限基本相同。
但在（能光子）范围内能量色散型荧光光谱仪分辨率好些，在长波（低能光子）范围内，波长色散型荧光光谱仪的分辨率好些。
就定性分析而言，在分析多种元素时能量色散型荧光光谱仪优于单道晶体谱仪。就测量个别分析元素而言，波长色散型荧光光谱仪更优。如果分析的元素事不知道，用能量色散较好，而分析元素已知则用多道晶体色散仪好。
对易受放射性损伤的样品，如果液体，有机物（可能发生辐射分解），玻璃品，艺品（可能发生褪色）等，用能量色散型荧光光谱仪分析特别有利。能量色散型荧光光谱仪很适合动态系统的研究。如在催化，腐蚀，老化，磨损，改性和能量转换等与表面化学过程有关的研究。
总之，WD-XRF与ED-XRF两种仪器，各有所有优点和不足，它们只能互补，而不能替代。