天瑞仪器镀层测厚仪由测量对象引入的误差有哪些呢?

发布时间2019-04-30        浏览次数：119

    仪器在测量时难免会出现些误差，有些误差是由于仪器本身的原因而引起的，有些则是由测量对象而引入的。那么天瑞仪器镀层测厚仪由测量对象引入的误差有哪些呢?
    由测量对象引入的测量误差主要包括以下几方面：
    1、基体金属表面粗糙度的影响；
    2、基体金属厚度的影响；
    3、覆盖层厚度的影响；
    4、基体金属磁性的影响；
    5、基体金属剩磁的影响；
    6、基体金属曲率的影响；
    7、材料的边缘效应的影响；
    8、基体金属机械加方向的影响。
    天瑞仪器镀层测厚仪采用电磁感应法测量镀层厚度。位于件表面的探头产生个闭合的磁回路，随着探头与铁磁性材料间的距离的改变，该磁回路将不同程度的改变，引起磁阻及探头线圈电阻感的变化。利用这原理可以地测量探头与铁磁性材料间的距离，这个距离即镀层厚度。