XRF之X射线元素成分分析仪

发布时间2019-07-11        浏览次数：120

    X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪），是种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次X射线。
    XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素内层电子被击出后，成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出特征X光；不同的元素会放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波长特性。
    不同元素发出的特征X射线荧光能量和波长各不相同，因此通过对其的能量或者波长的测量即可知道它是何种元素发出的，行元素的定性分析。射线强度与相应元素在样品中的含量有关，因此通过测试其强度实现元素的定量分析。
    检测器(Detector)接受这些X光，仪器软件系统将其转为对应的信号。这现象广泛用于元素分析和化学分析，在某种程度上与原子吸收光谱仪实现互补。
    X射线荧光光谱（XRF）术是项可用于确定各类材料成分构成的分析术，已经成熟运用多年。其应用方向包括金属合金、矿物、石化产品等等。
    X射线形成分电磁波谱。其处于紫外线辐射的能侧，使用千电子伏特表示能量低，纳米表示波长。
    XRF般可用于分析从钠到铀的所有元素，其可识别浓度范围zui低至百分，至百分比，可用于分析固体、液体和粉状物。
    所有XRF仪器都拥有两个主要成分，个是X射线源，般采用X射线管，另个则是探头。X射线源会发出初X射线到样品表面，有时会通过滤光器对X射线束行调整。在光束击打样品原子时，会产生次X射线，这些次X射线会被探头收集并处理。