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X荧光光谱仪的原理及优点介绍

发布时间2021-01-20        浏览次数:284

X荧光光谱仪的原理及优点介绍

x荧光的基本原理:当束高能粒子与原子相互作用时,如果其能量大于或等于原子某轨道电子的结合能,将该轨道电子逐出,对应的形成个空穴,使原子处于激发状态。此后在很短时间内,由于激发态不稳定,外层电子向空穴跃迁使原子恢复到平衡态,以降低原子能。当较外层的电子跃迁(符合量子力学理论)至内层空穴所释放的能量以辐射的形式放出,便产生了x荧光。x荧光的能量与入射的能量无关,它只等于原子两能之间的能量差。由于能量差完全由该元素原子的壳层电子能决定,故称之为该元素的特征x射线,也称荧光x射线或x荧光。  x荧光光谱法就是由x射线光管发生的次x射线激发样品,试样可以被激发出各种波长的特征x射线荧光,需要把混合的x射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的x射线的强度,以进行定性和定量分析的方法。

 1、优点

  1) 分析时间短。测定用时与测定度有关,但般都很短,2~5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。

  2) 适用范围广。X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在超软X射线范围内,这种效应为显著。波长变化用于化学位的测定 。

  3) 非破坏分析,重现性好。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同试样可反复多次测量,结果重现性好。

  4) X射线荧光分析是种物理分析方法,所以对在化学性质上属同族的元素也能进行分析。

  5) 制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。

    6) 分析度高。