XRF光谱仪可对镀层的厚度与成分行分析

1、X射线管：仪器的分，产生照射样品的X射线。

2、光圈：光圈是引导X射线向样品的装置的分。XRF仪器中的光圈将决定光斑尺寸——正确的光圈选择对度和测量效率至关重要。

3、探测器：与相关电子设备并处理从样品中激发出的X射线：探测X射线的能量和强度。

4、对焦系统：确保每次测量中X射线管、零件和探测器间的X射线可测量且几何光路连续致；否则会导致结果不准确。

5、相机：帮助用户定位测量区域。某些情形下相机用于向自动操作模块提供图像信息，或包括放大图像以定位需要测量的区域。

6、样品台：样品可放置于固定或可移动的样品台上。快速或慢速移动对于找到测试位置至关重要，随后聚焦于准确的区域行测量。作台移动的度是带来测试定位准确的个因素，并而贡献于仪器的整体准确度。

 
Think800A X荧光镀层测厚仪是集天瑞仪器多年镀层测厚检测术和经验，以特的产品配置、能齐的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及含量测定的需要，人性化的设计，使测试作加轻松成。Think800A 镀层测厚仪使用效而实用的正比计数盒和电制冷探测器，以实在的价格定位满足镀层厚度测量的要求，且的具有现代感的外形、结构及色彩设计，使仪器操作人性化、方便。广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、电子电器、气配五金、卫浴等行业。