仪器介绍

Thick 8000镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而心设计的款端仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测。
自动X射线荧光镀层厚度分析仪

仪器配置

1 硬件：主机壹台，含下列主要件：

(1) X光管 (2) 半导体探测器

(3) 放大电路 (4) 样品移动平台

(5) 清晰摄像头 (6) 压系统

(7) 上照、开放式样品腔 (8）双激光定位

(9) 玻璃屏蔽罩

2 软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0

3 计算机、打印机各台

计算机（，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）

4 资料：使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各份。

自动X射线荧光镀层厚度分析仪

参数规格

1．分析元素范围：硫（S）～铀（U）；
2.同时检测元素：多24个元素，多达5层镀层；
3.分析含量：般为2ppm到99.9%；
4.镀层厚度：般在50μm以内（每种材料有所不同）；
5.SDD探测器：分辨率低至135eV；
6.的微孔准直术：zui小孔径达0.1mm,zui小光斑达0.1mm；
7.样品观察：配备景和局两个业清摄像头；
8.准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合；
9.仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm；
10.样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm；
11.样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm；
12.X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s；
13.X/Y/Z平台重复定位度：小于0.1um；

性能特点

1.的三维移动平台；
2.的样品观测系统；
3.的图像识别；
4.轻松实现深槽样品的检测；
5.四种微孔聚焦准直器，自动切换；
6.双重保护措施，实现无缝防撞；
7.采用大面积分辨率探测器，有效降低检出限，提测试度。

安装要求：

1 环境温度要求：15℃-30℃

2 环境相对湿度：<70%

3 作电源：交流220±5V

4 周围不能有强电磁干扰。