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产品名称: Thick8000 PCB多镀层厚度光谱分析仪
产品型号: Thick8000
品牌: 1647
产品数量:
产品单价: 3.00
日期: 2024-03-15

Thick8000 PCB多镀层厚度光谱分析仪的详细资料

是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款高端金属镀层膜厚仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测。

 

PCB多镀层厚度光谱分析仪Thick8000性能

 

1.的三维移动平台

2.的样品观测系统

3.的图像识别

4.轻松实现深槽样品的检测

5.四种微孔聚焦准直器,自动切换

6.双重保护措施,实现无缝防撞

7.采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试精度

 

全自动智能控制方式,一键式操作!

开机自动自检、复位;

开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样;

关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦;

PCB多镀层厚度光谱分析仪Thick8000直接点击全景或局部景图像选取测试点;

点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示结果。

 

技术指标

 

分析元素范围:硫(S)~铀(U)

同时检测元素:较多24个元素,较多测5层镀层

分析含量:一般为2ppm到99.9%

镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)

SDD探测器:分辨率低至135eV

的微孔准直技术:较小孔径达0.1mm,较小光斑达0.1mm

样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头

准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合

仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm

样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm

样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm

X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 较高速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重复定位精度:小于0.1um

操作环境湿度:≤90%

操作环境温度:15℃~30℃

 

ROHS检测,镀层光谱仪

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性能

 

下照式:可满足各种形状样品的测试需求

准直器和滤光片:多种准直器和滤光片的电动切换,满足各种测试方式的应用

移动平台:精细的手动移动平台,方便定位测试点

高分辨率探测器:提高分析的准确性

新一代的高压电源和X光管:性能稳定可靠,高达50W的功率实现更高的测试效率

 

仪器配置

 

移动样品平台

SDD探测器

信号检测电子电路

高低压电源

PCB多镀层厚度光谱分析仪Thick8000大功率X光管

计算机及喷墨打印机

 

技术参数

 

元素分析范围从硫(S)到铀(U)

分析检出限可达ppm

分析含量一般为1ppm到99.99%

任意多个可选择的分析和识别模型

相互的基体效应校正模型

多变量非线性回归程序

温度适应范围为15℃至30℃

电源:交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源

能量分辨率:140±5eV

外观尺寸: 550×416×333mm

样品腔尺寸:460×298×98mm

重量:45Kg

 

应用领域

 

RoHS检测分析

地矿与合金(铜、不锈钢等)成分分析

PCB多镀层厚度光谱分析仪主要用于RoHS指令相关行业、贵金属加工和饰加工行业;银行,饰销售和检测机构;电镀行业,金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定。