1秒测值的X射线荧光仪厂家_ROHS2.0增加项仪器

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1秒测值的X射线荧光仪厂家的详细资料

1秒测值的X射线荧光仪厂家
速度*快ROHS仪EDX9000介绍

EDX 9000采用分析仪器行业的速探测器技术（SDD）可将测试时间降低到1秒。同时EDX 9000还采用了天瑞仪器产品的定位系统，可实现图像联动控制，多点连续测试。新增加电动开发的样品腔使操作更加方便，全新设计自动样品平台让准确检测得到保证。

参数规格

1.元素分析范围从硫(S)到铀(U)；

2.元素含量分析范围为1 PPm到99.99%；

3.测量时间：1秒或以上；

4.分析检测限度达2PPM,*薄可测试0.005um；

5.多次测量重复性可达0.05％（总荧光强度）；

6.长期工作稳定性为0.05％；（总荧光强度）。

1秒测值的X射线荧光仪厂家
仪器硬件配置

1. 速探测器

2. X 光管

3. 高、低压电源

4. 高摄像头

5. 数字多道分析器

6. 样品腔

7. 准直器自动切换

8. 滤光片自动切换

9. 准直器和滤光片的自由组合

10. 标准样品

1秒测值的X射线荧光仪厂家
仪器特点

1. 快—1秒钟出结果；

2. 采用行业的速探测器技术——（SDD）分辨率至125eV；
：探测面积大（面积达25mm2）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好，探测效率更高，探测信噪比更强，检出限更低；

3. 采用行业的数字多道技术；
：有效提高输出效率，实现超高计数率，保证采集有效计数率可达600KCPS；

4. 采用大功率X光管及的准直滤光系统；
：激发效率更高；

5.光闸系统；
：样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度；

6. 的定位系统；

超高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点；

7. 多点测试；

2D全自动移动样品台——可实现图像联动控制，多点连续测试；
超小样品检测——*小可测到0.2毫米；