Thick 8000
镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而心设计的款端仪器。主要应用于:金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定;、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测。
仪器配置
1 硬件:主机壹台,含下列主要件:
(1) X光管 (2) 半导体探测器
(3) 放大电路 (4) 样品移动平台
(5) 清晰摄像头 (6) 压系统
(7) 上照、开放式样品腔 (8)双激光定位
(9) 玻璃屏蔽罩
2 软件:天瑞X射线
荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0
3 计算机、打印机各台
计算机(,P4,液晶显示屏)、打印机(佳能,彩色喷墨打印机)
4 资料:使用说明书(包括软件操作说明书和硬件使用说明书)、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各份。
1.分析元素范围:硫(S)~铀(U);
2.同时检测元素:*多24个元素,多达5层镀层;
3.分析含量:般为2ppm到99.9%;
4.镀层厚度:般在50μm以内(每种材料有所不同);
5.SDD探测器:分辨率低至135eV;
6.的微孔准直术:*小孔径达0.1mm,*小光斑达0.1mm;
7.样品观察:配备景和局两个业清摄像头;
8.准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合;
9.仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm;
10.样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm;
11.样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm;
12.X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s;
13.X/Y/Z平台重复定位度:小于0.1um;
1.的三维移动平台;
2.的样品观测系统;
3.的图像识别;
4.轻松实现深槽样品的检测;
5.四种微孔聚焦准直器,自动切换;
6.双重保护措施,实现无缝防撞;
7.采用大面积分辨率探测器,有效降低检出限,提测试度。