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| 产品名称： | 上照式X荧光无损测厚仪厂家 |
| 产品型号： | |
| 品牌： | 1647 |
| 产品数量： | |
| 产品单价： | 100.00 |
| 日期: | 2025-08-18 |
上照式X荧光无损测厚仪厂家的详细资料
镀层厚度测试方法般有以下几种方法：
1.光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005
2.X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005
3.库仑法，此法般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005
测量标准
1.标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
2.美标准A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of me
应用行业
1.电子半导体行业接插件和触点的厚度测量
2.印刷线路板行业能镀层厚度测量
3.贵金属饰手表行业镀层厚度测量
4.五金电镀行业各种防腐性、装饰性及能镀层厚度测量
仪器分析原理
仪器采用XRF光谱分析术，X光管产生的X射线打到被测样品时可以击出原子的内层电子，出现壳层空穴，当外层电子从轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时，就会产生特征X射线。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。
上照式X荧光无损测厚仪厂家
仪器配置
仪器配置
1 硬件：主机壹台，含下列主要件：
①X光管
②半导体探测器
③放大电路
④样品移动平台
⑤清晰摄像头
⑥压系统
⑦上照、开放式样品腔
⑧双激光定位
⑨玻璃屏蔽罩
2 软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0
3 计算机、打印机各台
计算机（，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）
4 资料：使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各份。
5 标准附件
准直孔：0.1X1.0mm（已内置于仪器中）
仪器软件:
仪器采用天瑞软件研发团队研发的能量色散X荧光FpThick软件，的FP法和EC法等多种方法嵌入的人性化应用软件，具有灵敏度、测试时间短、键智能化操作。谱图区域采用动态模式，测试时元素观察更直观。
软件具有多种测试模式设置和数目模式自由添加，内置强度校正方法，可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品成的偏差。
