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| 产品名称： | X光无损厚度分析仪厂家 |
| 产品型号： | |
| 品牌： | 1647 |
| 产品数量： | |
| 产品单价： | 100.00 |
| 日期: | 2025-08-18 |
X光无损厚度分析仪厂家的详细资料
天瑞公司有善的质量管理体系，天瑞Thick600从口核心零件的检测开始，到仪器的组装，数据的标定及考核，均严格把关，能够很好的控制产品的质量。公司严格按ISO9001质量体系的要求，行产品质量的管理，每道序行严格的检验，不允许不合格的流到下到序；不合格的产品不出厂，坚决做到“三不”和“三不放过”，确保产品质量可靠，用户使用放心。
镀层厚度测试方法般有以下几种方法：
1 光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005
2 X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005
3 库仑法，此法般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005
测量标准
1标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
2.美标准A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of me
样品测试步骤
1.每天开机预热30分钟后打开测试软件“FpThick”：
用户使用“Administrator”，密码：skyray
2.入测试软件后，选择“测试条件”
点击“确定”，即测试条件确定（仪器已设置好）
3.选择“作曲线”
如待测样品是铁镀镍，则选择Ni-Fe；其他依次类推
4.放入“Ag片”对仪器行初始化
初始化成后，（峰通道为1105，计数率达到定的数，如300以上）。
5.待测样品测试
放入待测的样品，通过摄像头画面观察当前放入的样品的表面情况，以及仪器的X射线的聚焦点。可以通过软件提供的十字坐标（也称十字光标）来定位该聚焦点，将样品放在聚焦点位置。点击“开始”，输入样品名称后“确定”。
6.测试成后即可保持报告，报告的位置可以在桌面的“分析报告”快捷方式中的“镀层报告”中找到。
注意：测试镀层样品时，须要确定是什么镀层、选择好对应的作曲线测试。
术参数
1．长效稳定X铜光管
2．半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷
3．采用天瑞仪器产品—信噪比增强器（SNE）
4．内置清晰摄像头，方便用户随时观测样品
5．脉冲处理器，数据处理快速准确
6. 手动开关样品腔，操作安方便
7．三重安保护模式
8．整体钢架结构、外型贵时尚
9．FP软件，无标准样品时亦可测量
