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| 产品名称： | 无损膜厚测试仪厂家 |
| 产品型号： | |
| 品牌： | 1647 |
| 产品数量： | |
| 产品单价： | 100.00 |
| 日期: | 2024-03-15 |
无损膜厚测试仪厂家的详细资料
天瑞仪器92年就开始做光谱仪，经过多年的积累，在镀层厚度检测方面，我们一直保持：主要原因是我们的与售后服务具有很强的竞争力，这个不仅仅体现在购买价格上，也体现在产品生命周期花费的总体成本上。Thick600是天瑞仪器价格*优的镀层测厚仪；仪器采用下照式结构，适合平面样品的检测，配置的软件界面简洁，测试样品用时40S，售后服务可靠及时。
镀层厚度测试方法一般有以下几种方法：
1 光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005
2 X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005
3 库仑法，此法一般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005
测量标准
1国标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
2.美国标准A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of me
应用领域
镀层厚度分析；
RoHS指令中Cd/Pb/Cr/Hg/Br/Cl检测；
合金成分分析；
样品测试步骤
1.每天开机预热30分钟后打开测试软件“FpThick”：
用户使用“Administrator”，密码：skyray
2.进入测试软件后，选择“测试条件”
点击“确定”，即测试条件确定（仪器已设置好）
3.选择“工作曲线”
如待测样品是铁镀镍，则选择Ni-Fe；其他依次类推
4.放入“Ag片”对仪器进行初始化
初始化完成后，（峰通道为1105，计数率达到一定的数，如300以上）。
5.待测样品测试
放入待测的样品，通过摄像头画面观察当前放入的样品的表面情况，以及仪器的X射线的聚焦点。可以通过软件提供的十字坐标（也称十字光标）来定位该聚焦点，将样品放在聚焦点位置。点击“开始”，输入样品名称后“确定”。
6.测试完成后即可保持报告，报告的位置可以在桌面的“分析报告”快捷方式中的“镀层报告”中找到。
注意：测试镀层样品时，必须先要确定是什么镀层、选择好对应的工作曲线测试。
技术参数
1 分析元素范围：S-U
2 可分析多达3层以上镀层
3 分析厚度检出限达0.02μm
4 多次测量重复性可达0.05μm
5 定位精度：0.5mm
5 测量时间：30s-300s
6 计数率：1000-8000cps
7 仪器适合测试平面。以单层Fe镀Ni的标样为例，分析的范围是0.02—30um，在这个范围内，才能检测。0.5-10um的，偏差是5%，就是说真值是1um，用仪器测试的值是0.95-1.05um。
性能
下照式：可满足各种形状样品的测试需求
准直器和滤光片手动切换：不同样品材质用不同的准直器
移动平台：精细的手动移动平台，方便定位测试点
高分辨率探测器：提高分析的准确性
新一代的高压电源和X光管：性能稳定可靠，高达50W的功率实现更高的测试效率
仪器硬件配置
1. 探测器
2. 高、低压电源
3. X光管
4. MCA多道分析器
5. 高摄像头
6. 移动平台（自动）
7. 准直器
8. 标准样品
