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| 产品名称： | X光下照式膜厚分析仪厂家 |
| 产品型号： | |
| 品牌： | 1647 |
| 产品数量： | |
| 产品单价： | 100.00 |
| 日期: | 2024-09-02 |
X光下照式膜厚分析仪厂家的详细资料
天瑞公司有善的质量管理体系，天瑞Thick600从口核心零件的检测开始，到仪器的组装，数据的标定及考核，均严格把关，能够很好的控制产品的质量。公司严格按ISO9001质量体系的要求，行产品质量的管理，每道序行严格的检验，不允许不合格的流到下到序；不合格的产品不出厂，坚决做到“三不”和“三不放过”，确保产品质量可靠，用户使用放心。
镀层厚度测试方法般有以下几种方法：
1 光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005
2 X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005
3 库仑法，此法般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005
测量标准
1标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
2.美标准A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of me
样品测试步骤
1.每天开机预热30分钟后打开测试软件“FpThick”：
用户使用“Administrator”，密码：skyray
2.入测试软件后，选择“测试条件”
点击“确定”，即测试条件确定（仪器已设置好）
3.选择“作曲线”
如待测样品是铁镀镍，则选择Ni-Fe；其他依次类推
4.放入“Ag片”对仪器行初始化
初始化成后，（峰通道为1105，计数率达到定的数，如300以上）。
5.待测样品测试
放入待测的样品，通过摄像头画面观察当前放入的样品的表面情况，以及仪器的X射线的聚焦点。可以通过软件提供的十字坐标（也称十字光标）来定位该聚焦点，将样品放在聚焦点位置。点击“开始”，输入样品名称后“确定”。
6.测试成后即可保持报告，报告的位置可以在桌面的“分析报告”快捷方式中的“镀层报告”中找到。
注意：测试镀层样品时，须要确定是什么镀层、选择好对应的作曲线测试。
术参数
1．长效稳定X铜光管
2．半导体硅片电制冷系统，摒弃液氮制冷
3．采用天瑞仪器产品—信噪比增强器（SNE）
4．内置清晰摄像头，方便用户随时观测样品
5．脉冲处理器，数据处理快速准确
6. 手动开关样品腔，操作安方便
7．三重安保护模式
8．整体钢架结构、外型贵时尚
9．FP软件，无标准样品时亦可测量
仪器硬件配置
1 探测器
1.1. 电制冷半导体探测器分辨率：160±5电子伏特；
1.2. 对样品特征X射线行探测；把探测采集的信息,步放大。
2 光管
2.1. 使用寿命大于2小时；
2.2. 产生X射线激发样品。
3 、低压电源
3.1. 管压：5KV～50KV，管流为1000uA；
3.2. 为X光提供专用电源。
4 放大电路:
4.1.对采集来的信号行数据处理,并将处理结果传输给计算机。
5 清晰摄像头
5.1试样观察；
6 移动平台（自动）
3.6.1样品微调移动平台，保证样品测试位置准确性。
7 样品腔
8 准直器
9 标准样品（欧盟标样）：
11.1 0＃标样、塑胶标样、银校正片各片。
仪器保养
荧光分析仪属贵重仪器，使用存放中须注意保养。
1.若仪器放置不用时，就需要用防尘罩盖好，放在干燥、通风的安之处。
2.在使用中要注意以下几项：
① 键盘操作，动作要轻，不可用力过猛，以免损坏键盘。
② 向样品腔内放样品时，定要注意清洁，不可使样品尘粒掉入其中，否则会污染X光管和探测器窗口，成测量失准和探头损坏。
③ 样品盖需要用酒棉做好清洁作。
3.常规保养
① 为了保持仪器的良好外观，需经常对仪器表面做清洁作。用软布擦拭灰尘。如有污点，请用酒棉轻轻擦净。
② 使用、保存和搬动中，要特别小心，以免磕碰、损伤外表、损坏内线路。
③ 为使仪器能长期作正常，需定期对各项参数行测试，并行调整。
