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产品名称: 电镀化学镍的厚度检测厂家
产品型号:
品牌: 1647
产品数量:
产品单价: 100.00
日期: 2024-03-27

电镀化学镍的厚度检测厂家的详细资料

 
天瑞仪器生产的Thick800A(关键部件元是进口的)已通过了江苏省科技厅的验收,目前已累计销售贰万多台。华为,三星,海尔,美菱等企业先后组织人员到我司考察后,选择了我司仪器。主要原因是在满足客户检测需求的情况下,价格更优惠,售后服务成本更低廉。
 
镀层厚度测试方法一般有以下几种方法:
1.光学显微镜法。适用标准为:GB/T6462-2005
2.X-ray法(X射线法)。适用标准为:GB/T16921-2005
3.库仑法,此法一般为仲裁方法。适用标准为:GB/T4955-2005
 
测量标准
1.国标GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000
 金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
2.美国标准A754/A754M-08
Coating Weight(mass)of metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
仪器配置                                            
1    硬件:主机壹台,含下列主要部件: 
①X光管                    
②半导体探测器
③放大电路                  
④样品移动平台
⑤高清晰摄像头              
⑥高压系统
⑦上照、开放式样品腔        
⑧双激光定位
⑨玻璃屏蔽罩
2   软件:天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0
3   计算机、打印机各一台
计算机(品牌,P4,液晶显示屏)、打印机(佳能,彩色喷墨打印机)
4   资料:使用说明书(包括软件操作说明书和硬件使用说明书)、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各一份。
5   标准附件
准直孔:0.1X1.0mm(已内置于仪器中)
仪器技术参数
1.x射线电镀层测厚仪针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析;
2.软件可分析5层25种元素镀层;
3.通过软件操作样品移动平台,实现不同测试点的测试需求;
4.配置高分辨率Si-PIN半导体探测器,实现对多镀层样品的分析;
5.内置高清晰摄像头,方便用户观测样品状态;
6.高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。
7.外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
8.样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
9.样品台尺寸:230(W)×210(D)mm
10.移动范围:50(X)mm, 50(Y)mm
11.Z轴升降平台升降范围:0-140mm