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| 产品名称： | X射线荧光法测金属厚度厂家 |
| 产品型号： | |
| 品牌： | 1647 |
| 产品数量： | |
| 产品单价： | 100.00 |
| 日期: | 2024-09-02 |
X射线荧光法测金属厚度厂家的详细资料
天瑞Thick800A是*使用多道数据处理器的金属镀层检测仪。超低的检出限使仪器的性能在与口设备（费希尔，，牛津等）PK过程中不落下风；仪器使用方便，测试快捷，适用于各类型样品的厚度检测。
测量标准
1.标GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金属覆盖层 覆盖层厚度测量X射线光谱方法
2.美标准A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of me
应用域
铁基－－－－□Fe/Zn,□Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni， □Fe/Cu/Ni/Cr， □Fe/Cu/Ni/Au，□Fe/Cu/Ni/Ag
铜基－－－－-□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr
锌基－－－－-□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au
镁铝合金－－－－□Al/Cu，□Al/Ni，□Al/Cu/Ag，□Al/Cu/Au
塑胶基体－－--plastic/Cu/Ni，plastic/Cu/Ni/Cr
应用域
，铂，银等贵金属和各种饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加和饰加行业；银行，饰销售和检测机构；电镀行业。
仪器分析原理
仪器应用XRF光谱分析术，X光管产生的X射线打到被测样品时可以击出原子的内层电子，出现壳层空穴，当外层电子从轨道跃迁到低能轨道来填充轨道空穴时，就会产生特征X射线。X射线探测器将样品元素的X射线的特征谱线的光信号转换成易于测量的电信号来得到待测元素的特征信息。
仪器配置
1 硬件：主机壹台，含下列主要件：
①X光管
②半导体探测器
③放大电路
④样品移动平台
⑤清晰摄像头
⑥压系统
⑦上照、开放式样品腔
⑧双激光定位
⑨玻璃屏蔽罩
2 软件：天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件V1.0
3 计算机、打印机各台
计算机（，P4，液晶显示屏）、打印机（佳能，彩色喷墨打印机）
4 资料：使用说明书（包括软件操作说明书和硬件使用说明书）、出厂检验合格证明、装箱单、保修单及其它应提供资料各份。
5 标准附件
准直孔：0.1X1.0mm（已内置于仪器中）
术标
1.型号：Thick 800A
2.元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
3.同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
4.分析含量般为ppm到99.9% 。
5.镀层厚度般在50μm以内（每种材料有所不同）
6.意多个可选择的分析和识别模型。
7.相互的基体效应校正模型。
8.多变量非线性回收程序
9.环境温度适应范围为15℃至30℃。
10.电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
11.外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
12.样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
13．重量：90kg
