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| 产品名称： | 自动X射线荧光镀层厚度分析仪厂家 |
| 产品型号： | |
| 品牌： | 1647 |
| 产品数量： | |
| 产品单价： | 100.00 |
| 日期: | 2025-07-28 |
自动X射线荧光镀层厚度分析仪厂家的详细资料
Thick 8000镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而心设计的款端仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定；、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测。
参数规格
1．分析元素范围：硫（S）～铀（U）；
2.同时检测元素：*多24个元素，多达5层镀层；
3.分析含量：般为2ppm到99.9%；
4.镀层厚度：般在50μm以内（每种材料有所不同）；
5.SDD探测器：分辨率低至135eV；
6.的微孔准直术：*小孔径达0.1mm,*小光斑达0.1mm；
7.样品观察：配备景和局两个业清摄像头；
8.准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合；
9.仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm；
10.样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm；
11.样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm；
12.X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s；
13.X/Y/Z平台重复定位度：小于0.1um；
2.同时检测元素：*多24个元素，多达5层镀层；
3.分析含量：般为2ppm到99.9%；
4.镀层厚度：般在50μm以内（每种材料有所不同）；
5.SDD探测器：分辨率低至135eV；
6.的微孔准直术：*小孔径达0.1mm,*小光斑达0.1mm；
7.样品观察：配备景和局两个业清摄像头；
8.准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合；
9.仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm；
10.样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm；
11.样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm；
12.X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s；
13.X/Y/Z平台重复定位度：小于0.1um；
自动X射线荧光镀层厚度分析仪厂家
性能特点
性能特点
1.的三维移动平台；
2.的样品观测系统；
3.的图像识别；
4.轻松实现深槽样品的检测；
5.四种微孔聚焦准直器，自动切换；
6.双重保护措施，实现无缝防撞；
7.采用大面积分辨率探测器，有效降低检出限，提测试度。
2.的样品观测系统；
3.的图像识别；
4.轻松实现深槽样品的检测；
5.四种微孔聚焦准直器，自动切换；
6.双重保护措施，实现无缝防撞；
7.采用大面积分辨率探测器，有效降低检出限，提测试度。
安装要求：
1 环境温度要求：15℃-30℃
2 环境相对湿度：<70%
3 作电源：交流220±5V
4 周围不能有强电磁干扰。
