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产品名称: Thick800A天瑞电镀镀层测厚仪
产品型号:
品牌: 1556
产品数量:
产品单价: 100.00
日期: 2024-09-02

Thick800A天瑞电镀镀层测厚仪的详细资料

Thick800A天瑞电镀镀层测厚仪

电镀镀层检测仪的特性
若产生X-射线荧光是由于转移个电子入K轨道,个K轨道上的电子已事被游离,另个电子即代替他的地位,此称之为K辐射。不同的能阶转换出不同的能量,如Kα辐射是电子由L轨道跳至K轨道的种辐射,而Kβ辐射是电子从M轨道跳至K轨道的种辐射,其间是有区别的。若X-射线荧光是个电子跳入L的空轨域,此种辐射称为L辐射。同样的L辐射可划分为Lα辐射,此是由M轨道之电子跳入L轨道及Lβ辐射,此是由N轨道之电子跳入L轨道中。由于Kβ辐射能量约为Kα的11%,而Lβ辐射能量较Lα大约20%,所以以能量的观点Lα及Lβ是很容易区分的。

镀层检测仪的原理 

1、对我们要了解XRF如何测量元素成分含量的: 

 个元素的成分计算公式可以简单用下面的公式表示:F?I=C,(这里C是样品含量,F是光谱中此元素比例系数,I是此元素在光谱中的激发强度),标样中已知C(此处用百分比表示),将此标样放入光谱,按着测试条件开X射线激发标样,此时得到个I的值,C/I=F(这样就能计算出此元素的含量轻度比列系数)。 

        之后,待测样品放入光谱,同样条件用X射线激发样品,获得待测样品的I值,用这个I值乘以之前得到的F值,F?I=C 就能计算出此样品的含量C的值,这就是XRF测量元素含量的基本原理。 

2、电镀镀层检测仪膜厚原理: 

同理,Th=F?I (这里Th是厚度,单位微米或其他长度单位) 

也是用标样来标定,求出此样品的某元素镀层厚度强度比F。 

测试待测样品时,用待测样品的镀层元素激发的I值乘以之前得到的F值,F?I=Th这样就能计算出待测样品的此元素镀层厚度值。


Thick800A天瑞电镀镀层测厚仪

仪器介绍
thick800a是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的款仪器,可自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。是款能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。

Thick800A天瑞电镀镀层测厚仪