EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF术可对含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提了检测效率和作效率的作用。
另外，在合金分析、元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

EDX4500H合金铸铁

性能特点
超薄窗X光管，标达到水平
新的数字多道术，让测试更快，计数率达到100000CPS，度更。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器作的致性
信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手操作带来的繁琐
解谱术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增应得到明显的抑制
内置清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）目了然

术参数
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：次性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

标准配置
超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道术
光路增强系统
信噪比电子线路单元
内置清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵

应用域
合金检测、元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）

EDX4500H合金铸铁