EDX 4500H X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF术可对含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素行分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提了检测效率和作效率的作用。
另外，在合金分析、元素分析、有害元素检测应用上也十分广泛。

EDX1800E电子电器产品重金属检测

性能特点
超薄窗X光管，标达到水平zui新的数字多道术，让测试更快，计数率达到100000CPS，度更。在合金检测中效果更好SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较的峰背比低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器作的致性信噪比的电子线路单元针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手操作带来的繁琐解谱术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析度多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增应得到明显的抑制内置清晰摄像头液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）目了然

术参数
产品型号：EDX 4500H
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：次性可测几十种元素
测量时间：30秒-200秒
探测器能量分辨率为：145±5eV
管压：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
样品腔体积：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

标准配置
超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道术
光路增强系统
信噪比电子线路单元
内置清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置
三重安保护模式
可靠的整体钢架结构
90mm×70mm的状态显示液晶屏
真空泵

应用域
合金检测、元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素）